Thermal emission rates and capture cross-section of majority carriers at titanium levels in silicon

  1. Morante, J.R.
  2. Carceller, J.E.
  3. Cartujo, P.
  4. Barbolla, J.
Aldizkaria:
Solid State Electronics

ISSN: 0038-1101

Argitalpen urtea: 1983

Alea: 26

Zenbakia: 1

Orrialdeak: 1-6

Mota: Artikulua

DOI: 10.1016/0038-1101(83)90153-3 GOOGLE SCHOLAR

Objetivos de desarrollo sostenible

Datuen iturria: Scopus