On the Low-Frequency Noise Characterization of Z2-FET Devices

  1. Marquez, C.
  2. Navarro, C.
  3. Navarro, S.
  4. Padilla, J.L.
  5. Donetti, L.
  6. Sampedro, C.
  7. Galy, P.
  8. Kim, Y.-T.
  9. Gamiz, F.
Aldizkaria:
IEEE Access

ISSN: 2169-3536

Argitalpen urtea: 2019

Alea: 7

Orrialdeak: 42551-42556

Mota: Artikulua

DOI: 10.1109/ACCESS.2019.2907062 GOOGLE SCHOLAR lock_openSarbide irekia editor

Garapen Iraunkorreko Helburuak

Datuen iturria: Scopus