Evaluation of thin-oxide Z2-FET DRAM cell

  1. Navarro, S.
  2. Lee, K.H.
  3. Marquez, C.
  4. Navarro, C.
  5. Parihar, M.
  6. Park, H.
  7. Galy, P.
  8. Bawedin, M.
  9. Gamiz, F.
  10. Cristoloveanu, S.
Konferenzberichte:
2018 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon, EUROSOI-ULIS 2018

ISBN: 9781538648117

Datum der Publikation: 2018

Ausgabe: 2018-January

Seiten: 1-4

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1109/ULIS.2018.8354342 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus