Insights on the Body Charging and Noise Generation by Impact Ionization in Fully Depleted SOI MOSFETs
- Marquez, C.
- Rodriguez, N.
- Gamiz, F.
- Ohata, A.
ISSN: 0018-9383
Datum der Publikation: 2017
Ausgabe: 64
Nummer: 12
Seiten: 5093-5098
Art: Artikel