Insights on the Body Charging and Noise Generation by Impact Ionization in Fully Depleted SOI MOSFETs

  1. Marquez, C.
  2. Rodriguez, N.
  3. Gamiz, F.
  4. Ohata, A.
Aldizkaria:
IEEE Transactions on Electron Devices

ISSN: 0018-9383

Argitalpen urtea: 2017

Alea: 64

Zenbakia: 12

Orrialdeak: 5093-5098

Mota: Artikulua

DOI: 10.1109/TED.2017.2762733 GOOGLE SCHOLAR

Objetivos de desarrollo sostenible

Datuen iturria: Scopus