2D-TCAD simulation on retention time of Z2FET for DRAM application
- Duan, M.
- Adam-Lema, F.
- Cheng, B.
- Navarro, C.
- Wang, X.
- Georgiev, V.P.
- Gamiz, F.
- Millar, C.
- Asenov, A.
Konferenzberichte:
International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices, SISPAD
ISBN: 9784863486102
Datum der Publikation: 2017
Ausgabe: 2017-September
Seiten: 325-328
Art: Konferenz-Beitrag