Three-dimensional multi-subband simulation of scaled FinFETs

  1. Donetti, L.
  2. Sampedro, C.
  3. Ruiz, F.G.
  4. Godoy, A.
  5. Gamiz, F.
Actas:
European Solid-State Device Research Conference

ISSN: 1930-8876

ISBN: 9781509059782

Año de publicación: 2017

Páginas: 180-183

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/ESSDERC.2017.8066621 GOOGLE SCHOLAR
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