Electrical characterization of Random Telegraph Noise in back-biased Ultrathin Silicon-On-Insulator MOSFETs

  1. Marquez, C.
  2. Rodriguez, N.
  3. Gamiz, F.
  4. Ohata, A.
Actas:
2016 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon, EUROSOI-ULIS 2016

ISBN: 9781467386098

Año de publicación: 2016

Páginas: 40-43

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/ULIS.2016.7440047 GOOGLE SCHOLAR
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