On the influence of the back-gate bias on InGaAs Trigate MOSFETs

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Actas:
2016 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon, EUROSOI-ULIS 2016

ISBN: 9781467386098

Año de publicación: 2016

Páginas: 230-233

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/ULIS.2016.7440095 GOOGLE SCHOLAR
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