Quantum Mechanical Confinement in the Fin Electron-Hole Bilayer Tunnel Field-Effect Transistor
- Padilla, J.L.
- Alper, C.
- Gámiz, F.
- Ionescu, A.M.
ISSN: 0018-9383
Año de publicación: 2016
Volumen: 63
Número: 8
Páginas: 3320-3326
Tipo: Artículo
ISSN: 0018-9383
Año de publicación: 2016
Volumen: 63
Número: 8
Páginas: 3320-3326
Tipo: Artículo