Threshold voltage and on-current Variability related to interface traps spatial distribution

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Actas:
European Solid-State Device Research Conference

ISSN: 1930-8876

ISBN: 9781467371339

Año de publicación: 2015

Volumen: 2015-November

Páginas: 230-233

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/ESSDERC.2015.7324756 GOOGLE SCHOLAR
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