Direct characterization of impact ionization current in silicon-on-insulator body-contacted MOSFETs

  1. Marquez, C.
  2. Rodriguez, N.
  3. Montes, J.M.
  4. Ruiz, R.
  5. Gamiz, F.
  6. Sampedro, C.
  7. Ohata, A.
Actas:
ECS Transactions

ISSN: 1938-6737,  1938-5862

ISBN: 9781607685395

Año de publicación: 2015

Volumen: 66

Número: 5

Páginas: 93-99

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1149/06605.0093ECST GOOGLE SCHOLAR
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