TCAD simulation of interface traps related variability in bulk decananometer mosfets
- Velayudhan, V.
- Martin-Martinez, J.
- Rodriguez, R.
- Porti, M.
- Nafria, M.
- Aymerich, X.
- Medina, C.
- Gamiz, F.
Actes:
2014 5th European Workshop on CMOS Variability, VARI 2014
ISBN: 9781479953998
Any de publicació: 2014
Tipus: Aportació congrés