Influence of the interface trap location on the performance and variability of ultra-scaled MOSFETs

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Zeitschrift:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Datum der Publikation: 2013

Ausgabe: 53

Nummer: 9-11

Seiten: 1243-1246

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2013.07.052 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus