Bias-engineered mobility in advanced FD-SOI MOSFETs

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Revista:
IEEE Electron Device Letters

ISSN: 0741-3106

Año de publicación: 2013

Volumen: 34

Número: 7

Páginas: 840-842

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/LED.2013.2264045 GOOGLE SCHOLAR
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