Ab initio validation of continuum models parametrizations for ultrascaled SOI interfaces

  1. Biel, B.
  2. Donetti, L.
  3. Godoy, A.
  4. Gámiz, F.
Revista:
Microelectronic Engineering

ISSN: 0167-9317

Año de publicación: 2013

Volumen: 109

Páginas: 286-289

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.MEE.2013.03.012 GOOGLE SCHOLAR
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