Ab initio validation of continuum models parametrizations for ultrascaled SOI interfaces

  1. Biel, B.
  2. Donetti, L.
  3. Godoy, A.
  4. Gámiz, F.
Aldizkaria:
Microelectronic Engineering

ISSN: 0167-9317

Argitalpen urtea: 2013

Alea: 109

Orrialdeak: 286-289

Mota: Artikulua

DOI: 10.1016/J.MEE.2013.03.012 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus