Multibranch mobility characterization: Evidence of carrier mobility enhancement by back-gate biasing in FD-SOI MOSFET

  1. Navarro, C.
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  4. Oliata, A.
  5. Gamiz, F.
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  8. Fenouillet-Berangerand, C.
  9. Cristoloveanu, S.
Actas:
European Solid-State Device Research Conference

ISSN: 1930-8876

ISBN: 9781467317078

Año de publicación: 2012

Páginas: 209-212

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/ESSDERC.2012.6343370 GOOGLE SCHOLAR
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