Simulation of fabricated 20-nm schottky barrier MOSFETs on SOI: Impact of barrier lowering
- Padilla, J.L.
- Knoll, L.
- Gamiz, F.
- Zhao, Q.T.
- Godoy, A.
- Mantl, S.
ISSN: 0018-9383
Datum der Publikation: 2012
Ausgabe: 59
Nummer: 5
Seiten: 1320-1327
Art: Artikel