Equivalent oxide thickness of trigate SOI MOSFETs with high-κ insulators

  1. Ruiz, F.J.G.
  2. Tienda-Luna, I.M.
  3. Godoy, A.
  4. Donetti, L.
  5. Gámiz, F.
Revista:
IEEE Transactions on Electron Devices

ISSN: 0018-9383

Año de publicación: 2009

Volumen: 56

Número: 11

Páginas: 2711-2719

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TED.2009.2030713 GOOGLE SCHOLAR
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