Enhanced electron transport by carrier overshoot in ultrascaled double gate MOSFETs

  1. Rodriguez, N.
  2. Donetti, L.
  3. Sampedro, C.
  4. Martinez-Carricondo, F.
  5. Gamiz, F.
Actas:
ULIS 2008 - 9th International Conference on ULtimate Integration of Silicon

ISBN: 9781424417308

Año de publicación: 2008

Páginas: 203-206

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/ULIS.2008.4527174 GOOGLE SCHOLAR