A comprehensive study of the corner effects in Pi-gate SOI MOSFETs

  1. Ruiz, F.G.
  2. Godoy, A.
  3. Gámiz, F.
  4. Sampedro, C.
  5. Donetti, L.
Actas:
ECS Transactions

ISSN: 1938-5862,  1938-6737

ISBN: 9781566775533

Año de publicación: 2007

Volumen: 6

Número: 4

Páginas: 363-368

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1149/1.2728883 GOOGLE SCHOLAR
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