An electron mobility model for ultra-thin gate-oxide MOSFETs including the contribution of remote scattering mechanisms
ISSN: 0268-1242, 1361-6641
Datum der Publikation: 2007
Ausgabe: 22
Nummer: 4
Seiten: 348-353
Art: Artikel
ISSN: 0268-1242, 1361-6641
Datum der Publikation: 2007
Ausgabe: 22
Nummer: 4
Seiten: 348-353
Art: Artikel