Study of 1/f and generation-recombination noise in four gate transistors

  1. Luque Rodríguez, A.
  2. Jiménez Tejada, J.A.
  3. Marun González, M.
  4. Reverto Planes, M.
  5. López Varo, P.
  6. Godoy, A.
Actes de conférence:
Proceedings of the IEEE 21st International Conference on Noise and Fluctuations, ICNF 2011

ISBN: 9781457701924

Année de publication: 2011

Pages: 283-286

Type: Communication dans un congrès

DOI: 10.1109/ICNF.2011.5994322 GOOGLE SCHOLAR
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