Localization and quantification of noise sources in four-gate field-effect-transistors

  1. Luque Rodríguez, A.
  2. Jiménez Tejada, J.A.
  3. Godoy, A.
  4. Ló pez Villanueva, J.A.
  5. Gó mez-Campos, F.M.
  6. Rodríguez-Bolivar, S.
Revista:
International Journal of Numerical Modelling: Electronic Networks, Devices and Fields

ISSN: 0894-3370,  1099-1204

Ano de publicación: 2010

Volume: 23

Número: 4-5

Páxinas: 285-300

Tipo: Achega congreso

DOI: 10.1002/JNM.744 GOOGLE SCHOLAR

Obxectivos de Desenvolvemento Sustentable

Fonte de datos: Scopus