Low-frequency noise studies on fully depleted UTBOX silicon-on-insulator nMOSFETs: Challenges and opportunities

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Revista:
ECS Journal of Solid State Science and Technology

ISSN: 2162-8769 2162-8777

Año de publicación: 2013

Volumen: 2

Número: 11

Tipo: Artículo

DOI: 10.1149/2.011311JSS GOOGLE SCHOLAR