Lessons learned from low-frequency noise studies on fully depleted UTBOX silicon-on-insulator nMOSFETs

  1. Simoen, E.
  2. Aoulaiche, M.
  3. Dos Santos, S.D.
  4. Martino, J.A.
  5. Strobel, V.
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  7. Routoure, J.-M.
  8. Carin, R.
  9. Luque Rodríguez, A.
  10. Jiménez Tejada, J.A.
  11. Claeys, C.
Actas:
ECS Transactions

ISSN: 1938-5862 1938-6737

ISBN: 9781607683780

Año de publicación: 2013

Volumen: 53

Número: 5

Páginas: 49-61

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1149/05305.0049ECST GOOGLE SCHOLAR