Modeling impact of electric field and strain on the leakage of embedded SiGe source/drain junctions

  1. Rodríguez, A.L.
  2. Tejada, J.A.J.
  3. Rodríguez-Bolivar, S.
  4. González, M.B.
  5. Eneman, G.
  6. Claeys, C.
  7. Simoen, E.
Actas:
2010 Proceedings of the European Solid State Device Research Conference, ESSDERC 2010

ISBN: 9781424466610

Año de publicación: 2010

Páginas: 384-387

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/ESSDERC.2010.5618203 GOOGLE SCHOLAR
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