A complex model via phase-type distributions to study random telegraph noise in resistive memories

  1. Ruiz-Castro, J.E.
  2. Acal, C.
  3. Aguilera, A.M.
  4. Roldán, J.B.
Revista:
Mathematics

ISSN: 2227-7390

Año de publicación: 2021

Volumen: 9

Número: 4

Páginas: 1-16

Tipo: Artículo

DOI: 10.3390/MATH9040390 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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