Modeling of the temperature effects in filamentary-type resistive switching memories using quantum point-contact theory
- Calixto, M.
- Maldonado, D.
- Miranda, E.
- Roldán, J.B.
ISSN: 1361-6463, 0022-3727
Año de publicación: 2020
Volumen: 53
Número: 29
Tipo: Artículo