Recommended Methods to Study Resistive Switching Devices

  1. Lanza, M.
  2. Wong, H.S.P.
  3. Pop, E.
  4. Ielmini, D.
  5. Strukov, D.
  6. Regan, B.C.
  7. Larcher, L.
  8. Villena, M.A.
  9. Yang, J.J.
  10. Goux, L.
  11. Belmonte, A.
  12. Yang, Y.
  13. Puglisi, F.M.
  14. Kang, J.
  15. Magyari-Köpe, B.
  16. Yalon, E.
  17. Kenyon, A.
  18. Buckwell, M.
  19. Mehonic, A.
  20. Shluger, A.
  21. Li, H.
  22. Hou, T.-H.
  23. Hudec, B.
  24. Akinwande, D.
  25. Ge, R.
  26. Ambrogio, S.
  27. Roldan, J.B.
  28. Miranda, E.
  29. Suñe, J.
  30. Pey, K.L.
  31. Wu, X.
  32. Raghavan, N.
  33. Wu, E.
  34. Lu, W.D.
  35. Navarro, G.
  36. Zhang, W.
  37. Wu, H.
  38. Li, R.
  39. Holleitner, A.
  40. Wurstbauer, U.
  41. Lemme, M.C.
  42. Liu, M.
  43. Long, S.
  44. Liu, Q.
  45. Lv, H.
  46. Padovani, A.
  47. Pavan, P.
  48. Valov, I.
  49. Jing, X.
  50. Han, T.
  51. Zhu, K.
  52. Chen, S.
  53. Hui, F.
  54. Shi, Y.
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Revista:
Advanced Electronic Materials

ISSN: 2199-160X

Año de publicación: 2019

Volumen: 5

Número: 1

Tipo: Revisión

DOI: 10.1002/AELM.201800143 GOOGLE SCHOLAR