Bayesian K-SVD using fast variational inference

  1. Serra, J.G.
  2. Testa, M.
  3. Molina, R.
  4. Katsaggelos, A.K.
Revista:
IEEE Transactions on Image Processing

ISSN: 1057-7149

Año de publicación: 2017

Volumen: 26

Número: 7

Páginas: 3344-3359

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TIP.2017.2681436 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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