Backscattered electron imaging of cultured cells: Application to electron probe X-ray microanalysis using a scanning electron microscope
- Fernández-Segura, E.
- Cañizares, F.J.
- Cubero, M.A.
- Revelles, F.
- Campos, A.
ISSN: 0022-2720
Ano de publicación: 1997
Volume: 188
Número: 1
Páxinas: 72-78
Tipo: Artigo