Test-Pattern Generation Based on Reed-Muller Coefficients

  1. Ortega, J.
  2. Ruiz, A.L.
  3. Prieto, A.
  4. Pelayo, F.J.
Revista:
IEEE Transactions on Computers

ISSN: 0018-9340

Año de publicación: 1993

Volumen: 42

Número: 8

Páginas: 968-980

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/12.238487 GOOGLE SCHOLAR
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