A special march test to detect delay coupling faults for RAMS

  1. Azimane, M.
  2. Ruiz, A.L.
Actas:
Proceedings of the IEEE International Conference on Electronics, Circuits, and Systems

ISBN: 9780780370579

Año de publicación: 2001

Volumen: 2

Páginas: 995-999

Tipo: Aportación congreso