Standards for the Characterization of Endurance in Resistive Switching Devices

  1. Lanza, M.
  2. Waser, R.
  3. Ielmini, D.
  4. Yang, J.J.
  5. Goux, L.
  6. Suñe, J.
  7. Kenyon, A.J.
  8. Mehonic, A.
  9. Spiga, S.
  10. Rana, V.
  11. Wiefels, S.
  12. Menzel, S.
  13. Valov, I.
  14. Villena, M.A.
  15. Miranda, E.
  16. Jing, X.
  17. Campabadal, F.
  18. Gonzalez, M.B.
  19. Aguirre, F.
  20. Palumbo, F.
  21. Zhu, K.
  22. Roldan, J.B.
  23. Puglisi, F.M.
  24. Larcher, L.
  25. Hou, T.-H.
  26. Prodromakis, T.
  27. Yang, Y.
  28. Huang, P.
  29. Wan, T.
  30. Chai, Y.
  31. Pey, K.L.
  32. Raghavan, N.
  33. Dueñas, S.
  34. Wang, T.
  35. Xia, Q.
  36. Pazos, S.
  37. Mostra tots els autors/es +
Revista:
ACS Nano

ISSN: 1936-086X,  1936-0851

Any de publicació: 2021

Volum: 15

Número: 11

Pàgines: 17214-17231

Tipus: Revisió

DOI: 10.1021/ACSNANO.1C06980 GOOGLE SCHOLAR lock_openAccés obert editor
Font de les dades: Scopus