Standards for the Characterization of Endurance in Resistive Switching Devices

  1. Lanza, M.
  2. Waser, R.
  3. Ielmini, D.
  4. Yang, J.J.
  5. Goux, L.
  6. Suñe, J.
  7. Kenyon, A.J.
  8. Mehonic, A.
  9. Spiga, S.
  10. Rana, V.
  11. Wiefels, S.
  12. Menzel, S.
  13. Valov, I.
  14. Villena, M.A.
  15. Miranda, E.
  16. Jing, X.
  17. Campabadal, F.
  18. Gonzalez, M.B.
  19. Aguirre, F.
  20. Palumbo, F.
  21. Zhu, K.
  22. Roldan, J.B.
  23. Puglisi, F.M.
  24. Larcher, L.
  25. Hou, T.-H.
  26. Prodromakis, T.
  27. Yang, Y.
  28. Huang, P.
  29. Wan, T.
  30. Chai, Y.
  31. Pey, K.L.
  32. Raghavan, N.
  33. Dueñas, S.
  34. Wang, T.
  35. Xia, Q.
  36. Pazos, S.
  37. Montrer des auteurs +
Revue:
ACS Nano

ISSN: 1936-086X,  1936-0851

Année de publication: 2021

Volumen: 15

Número: 11

Pages: 17214-17231

Type: Révision

DOI: 10.1021/ACSNANO.1C06980 GOOGLE SCHOLAR lock_openAccès ouvert editor
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