Recharging process of commercial floating-gate MOS transistor in dosimetry application

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Revista:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Ano de publicación: 2021

Volume: 126

Tipo: Artigo

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2021.114322 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso aberto editor
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