Highly Reliable Quadruple-Node Upset-Tolerant D-Latch
- Hatefinasab, S.
- Ohata, A.
- Salinas, A.
- Castillo, E.
- Rodriguez, N.
Revista:
IEEE Access
ISSN: 2169-3536
Año de publicación: 2022
Volumen: 10
Páginas: 31836-31850
Tipo: Artículo