Reliability insights into low frequency noise in high-mobility transistors

  1. Simoen, E.
  2. Romeo, T.
  3. Pantisano, L.
  4. Luque Rodrjguez, A.
  5. Jimenez Tejada, J.A.
  6. Aoulaiche, M.
  7. Veloso, A.
  8. Jurczak, M.
  9. Krom, R.
  10. Mitard, J.
  11. Caillat, Ch.
  12. Fazan, P.
  13. Crupi, F.
  14. Claeys, C.
Revista:
Solid State Technology

ISSN: 0038-111X

Año de publicación: 2013

Volumen: 56

Número: 2

Páginas: 25-28

Tipo: Artículo