Correction of Secondary Fluorescence across Phase Boundaries in Electron Probe Microanalysis of Mineral Inclusions

  1. Llovet, X.
  2. Proenza, J.A.
  3. Pujol-Solà, N.
  4. Farré-De-Pablo, J.
  5. Campeny, M.
Aldizkaria:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1435-8115,  1431-9276

Argitalpen urtea: 2020

Alea: 26

Zenbakia: 5

Orrialdeak: 895-905

Mota: Artikulua

DOI: 10.1017/S1431927620024393 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus