Impact of Strain on S/D tunneling in FinFETs: a MS-EMC study
- Medina-Bailon, Cristina
- Sampedro, Carlos
- Luis Padilla, Jose
- Godoy, Andres
- Donetti, Luca
- Georgiev, Vihar P.
- Gamiz, Francisco
- Asenov, Asen
ISSN: 1946-1569
ISBN: 978-1-5386-6790-3
Año de publicación: 2018
Páginas: 301-304
Congreso: International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD)
Tipo: Aportación congreso