Three-dimensional Multi-subband Simulation of Scaled FinFETs

  1. Donetti, L.
  2. Sampedro, C.
  3. Ruiz, F. G.
  4. Godoy, A.
  5. Gamiz, F.
Col·lecció de llibres:
2017 47TH EUROPEAN SOLID-STATE DEVICE RESEARCH CONFERENCE (ESSDERC)

ISSN: 1930-8876

ISBN: 978-1-5090-5978-2

Any de publicació: 2017

Pàgines: 180-183

Congrés: 47th European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC)

Tipus: Aportació congrés