Assessment of Gate Leakage Mechanism utilizing Multi-Subband Ensemble Monte Carlo

  1. Medina-Bailon, C.
  2. Sadi, T.
  3. Sampedro, C.
  4. Padilla, J. L.
  5. Godoy, A.
  6. Donetti, L.
  7. Georgiev, V.
  8. Gamiz, F.
  9. Asenov, A.
Colección de libros:
2017 JOINT INTERNATIONAL EUROSOI WORKSHOP AND INTERNATIONAL CONFERENCE ON ULTIMATE INTEGRATION ON SILICON (EUROSOI-ULIS 2017)
  1. Sarafis, P (coord.)
  2. Nassiopoulou, AG (coord.)

ISSN: 2330-5738

ISBN: 978-1-5090-5313-1

Año de publicación: 2017

Páginas: 144-147

Congreso: Joint International Workshop / International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS)

Tipo: Aportación congreso

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Fuente de los datos: WoS