Enhanced electron transport by carrier overshoot in ultrascaled Double Gate MOSFETs

  1. Rodriguez, Noel
  2. Donetti, Luca
  3. Sampedro, Carlos
  4. Martinez-Carricondo, Francisco
  5. Gamiz, Francisco
Libro:
ULIS 2008: PROCEEDINGS OF THE 9TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON ULTIMATE INTEGRATION ON SILICON
  1. Esseni, D (coord.)
  2. Palestri, P (coord.)
  3. Selmi, L (coord.)

ISBN: 978-1-4244-1729-2

Año de publicación: 2008

Páginas: 203-206

Congreso: 9th International Conference on Ultimate Integration on Silicon

Tipo: Aportación congreso

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Fuente de los datos: WoS