Ab initio validation of continuum models for Si/SiO2 interfaces

  1. Biel, Blanca
  2. Donetti, Luca
  3. Godoy, Andres
  4. Gamiz, Francisco J.
Col·lecció de llibres:
2013 14TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON ULTIMATE INTEGRATION ON SILICON (ULIS)

ISSN: 2330-5738

ISBN: 978-1-4673-4802-7,  978-1-4673-4800-3

Any de publicació: 2013

Pàgines: 166-169

Congrés: 14th International Conference on Ultimate Integration on Silicon (ULIS)

Tipus: Aportació congrés

GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: WoS