Insights in low frequency noise of advanced and high-mobility channel transistors

  1. Simoen, E.
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  13. Crupi, F.
  14. Claeys, C.
Libro:
2012 IEEE INTERNATIONAL ELECTRON DEVICES MEETING (IEDM)

ISBN: 978-1-4673-4870-6 978-1-4673-4872-0

Año de publicación: 2012

Congreso: IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)

Tipo: Aportación congreso