Properties of 22nm node extremely-thin-SOI MOSFETs

  1. Rodriguez, N.
  2. Andrieu, F.
  3. Navarro, C.
  4. Faynot, O.
  5. Gamiz, F.
  6. Cristoloveanu, S.
Col·lecció de llibres:
2011 IEEE INTERNATIONAL SOI CONFERENCE

ISSN: 1078-621X

ISBN: 978-1-61284-759-7

Any de publicació: 2011

Congrés: IEEE International SOI Conference

Tipus: Aportació congrés

GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: WoS