Properties of 22nm node extremely-thin-SOI MOSFETs

  1. Rodriguez, N.
  2. Andrieu, F.
  3. Navarro, C.
  4. Faynot, O.
  5. Gamiz, F.
  6. Cristoloveanu, S.
Collection de livres:
2011 IEEE INTERNATIONAL SOI CONFERENCE

ISSN: 1078-621X

ISBN: 978-1-61284-759-7

Année de publication: 2011

Congreso: IEEE International SOI Conference

Type: Communication dans un congrès

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La source de données: WoS