Enhanced capabilities of the nano-electronic simulation software (NESS)
- Medina-Bailon, C.
- Badami, O.
- Carrillo-Nunez, H.
- Dutta, T.
- Nagy, D.
- Adamu-Lema, F.
- Georgiev, V.P.
- Asenov, A.
Actas:
International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices, SISPAD
ISBN: 9784863487635
Año de publicación: 2020
Volumen: 2020-September
Páginas: 293-296
Tipo: Aportación congreso